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   （一）成分改変對譜線強度的影響

   在光譜分析中，分析試樣中成分的改變會影響譜線的強度，從而影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確度。例如在配制的標(biāo)準(zhǔn)土壤中加進NaC1（1：1），在分析Li元素的含量時，使分析結(jié)果比真實含量大三倍。產(chǎn)生這種影響，可歸結(jié)為以下幾點原因：

   （1）試樣中成分的改變，直接影響放電間隙間的有效電離電位的改變，因而弧溫發(fā)生變化。

    實驗證明，弧焰的溫度與蒸汽云中的元素的電離電位能成正比。當(dāng)電離勢不同的數(shù)種元素同時在電弧中蒸發(fā)時，弧焰的溫度取決于有效電離勢能。特別是當(dāng)有效電離勢能值的元素成分改變時，弧溫擾動是相當(dāng)大的。

   （2）試樣中成分的改變影響待測元素的蒸發(fā)情況，同時相互作用的結(jié)果形成了新的物質(zhì)，改變了待測元素進入弧焰中去的先后順序。

   （3）第二類碰撞的影響響。所謂第第二類碰撞，就是被激發(fā)的原子與其它質(zhì)點碰撞時可能由激發(fā)態(tài)反回正常狀態(tài)。一般說來，這種現(xiàn)象對強度影響不太大。因為，只有當(dāng)激發(fā)狀態(tài)的原子的激發(fā)能與被碰撞的正常狀態(tài)的原子的激發(fā)能相接近時，這種能量傳遞的可能性才大。同時，處于激發(fā)狀態(tài)的原子的壽命很短（10^-8秒左右），因而這種原子的濃度在電弧中是非常小的，其總的碰撞次數(shù)有限。但當(dāng)原子有介穩(wěn)能級存在時，則原子處于介穩(wěn)能級的時間是相當(dāng)長的（10^-3~10^-2秒）。因此，這種原子在電弧中濃度很大，因而總碰撞次數(shù)也大，這時對譜線強度影響也很顯著。在這種情況下，成分若有改變（特別是與激發(fā)態(tài)原子能量相接近的元素改變），即可大大影響譜線的強度。

   （二）背景對分析準(zhǔn)確度的影響數(shù)由說，

    假定只在雜質(zhì)線附近有背景。這時所測得的雜質(zhì)線的強度為：「I1＋Φ＝I1+IΦ。（式中I1為真實雜質(zhì)線的強度，IΦ為背景的強度）。若以I₀為基體線強度時，則

log R'=log I1+I_{Φ/I0=log(I1/I0+IΦ/I0)=b log c + log a}

當(dāng)IΦ《I₀時，背景的影響很小，可忽略不計。當(dāng)IΦ≈I₀時（例如分析元素含量很低）在R中產(chǎn)生了一附加值I_Φ/I₀。；使R變成R'，結(jié)果使上述方程式左邊增大、當(dāng)I₁越小時，這個增加的數(shù)值越顯著，因而工作曲線向上彎曲，如圖83所示。圖中虛線系理想情況。

     若標(biāo)樣含量范圍很寬，由于背景的存在，工作曲線必然向上彎曲不再為一直線；當(dāng)標(biāo)樣含量范圍不大時，則背景的存在必使工作曲線的斜率減少，因而降低了分析的準(zhǔn)確度。

   （三）b值的影響（即工作曲線斜率的影響）

    b值主要決定于進行分析時的工作條件，但在實際中，各種因素的影響還待研究。有人認(rèn)為，采用小電流可提高分析準(zhǔn)確度，但當(dāng)電流稍有波動時，則使工作曲線偏轉(zhuǎn)。